C114讯 9月21日消息（南山）9月5日至8日，第20届中国光博会在深圳会展中心举办。作为全球四大光通信行业展会之一，本次光博会上，400G可谓是舞台中央的明星，不少光器件厂商展出了400G光模块和芯片，一些厂商在光博会同期举办的新品交流会，也重点向客户推介400G。当前100G已经在骨干网大规模应用，400G则在不少省级干线试点，业界普遍认为，400G是骨干网升级和新建的方向。
技术升级换代总是少不了测试厂商。本次展会上，领先的测试厂商EXFO携带了全系列光通信测试解决方案亮相，助力光通信行业向400G演进。事实上，去年的光博会，EXFO已经以超前的眼光展示400G测试方案，今年随着行业向400G突破，EXFO将带来哪些惊喜？在展会上，EXFO传输产品线经理Karim Fahim、EXFO产品线经理Mathieu Bergont对C114进行了解读。
展台展示
开放式400G测试技术
Karim Fahim首先指出，EXFO在8年前就推出了一款100G测试样机，是高速光模块测试领域最早的厂商。1年半前，EXFO响应行业发展趋势，强势进军400G市场，并在今年推出了第二代测试产品。
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EXFO传输产品线经理Karim Fahim
“光模块产业迭代很快，不断有新的规格面世，BD，SFP，SEP+，SFP2，SFP4等，对测试厂商也提出很高要求。” Karim Fahim表示，进入400G时代，光模块技术变化更快，CFP8、OSFP、QSFP-DD、COBO等新的规格层出不穷，应用场景也越来越广阔。
光模块厂商纷纷开发400G产品，对产品测试的需求痛点是什么？一是提升光模块可靠性，二是降低测试成本。Karim Fahim强调，第二代解决方案正是针对客户需求而针对性设计，称为“开放式光模块测试技术”，既可以测25G的低速光模块，也可以测QSFP28的并行100G光模块，更可以测400G，针对不同的MSA，提供创新的测试解决方案。
“以前光模块厂商采购仪器仪表，一台仪器对应一种光模块测试。现在新的技术不断涌现，将带来新的模块形式，我们的400G开发测试方案通过更换测试模块的卡板，可以实现不更换仪表的情况下，测试不同技术类型的光模块，既降低客户的采购成本，又为未来新的扩展预留了空间，提供更完善的保障。”Karim Fahim指出。
看似简单的一个设计，其实非常考验研发实力。Karim Fahim介绍，在产品研发阶段，就需要针对开放式测试系统不断接入新的模块的标准尺寸，还要预留将要出现的技术规格，做好产品升级的准备，是行业前沿的设计。能够推出这套测试解决方案，一方面是EXFO的深厚技术积累，与客户的密切沟通，另一方面也是EXFO广泛参与了光通信业的标准组织，能够实时理解行业发展趋势。
与国内客户合作方面，Karim Fahim表示，EXFO在100G时代就与客户深度合作，400G也全力参与。EXFO还在各主要城市举办技术研讨会、以及到主流厂商的实验室直接参与研发阶段测试，互相助力，完善相关功能。目前，EXFO已是国内光模块行业突破400G的重要参与者之一。“中国有全球最大的运营商、全球领先的设备制造商，有很大的光模块厂商，成熟的产业和庞大的市场，这是我们为什么对中国市场重点关注。”
更全面高效的测试
Mathieu Bergont则对C114介绍了EXFO在光子集成（PIC）方面的成就。一年之前，EXFO收购了法国光学仪表厂商Yenista，从而实现对高端光学及传输测试的补充，例如OSA组件测试、WSS器件测试等，能够为客户提供更加全面的测试解决方案。
EXFO产品线经理Mathieu Bergont
尤其是针对光子集成产品，作为过去几年光器件发展的一个重要趋势，光子集成是各大行业展会研讨的重点，在本次光博会上也有专门的话题讨论，同时在商用层面也取得了显著的进展。毫无疑问，光器件集成更多芯片和组件后，必然会对测试带来不小的挑战。
Mathieu Bergont指出，光子集成的测试很多在芯片层面，芯片的封装成本相对较高，对测试要求也更加严格，每个阶段的测试都必不可少。据C114了解，EXFO在巡回研讨会上就推出了两款测试仪表CT440和CTP10，前者可以测试40个通道，后者可以测试60个通道，并支持1000纳米／秒的扫描速度。
“通过并购Yenista，EXFO获得了先进的光谱仪，对光器件具有很高的测试速度。普通的测试仪表可能需要几分钟，但我们可以做到一次扫描即测试整个功率范围，无需分档多次扫描，将测试速度提升到秒级。” Mathieu Bergont表示。
5G将带来海量的流量传输，倒逼整个承载网、骨干网升级，从国内看，运营商未雨绸缪，等待着大规模商用的最佳时机。从本次展会我们可以看到，无论是设备商、器件商，还是EXFO这样的仪器仪表厂商，都做好了充分的准备。 
