在高速光通信、激光雷达、量子通信等前沿领域，激光相对强度噪声（RIN）直接决定了系统信噪比与误码率等性能，因此RIN指标的测试成为工程师关注的焦点，然而行业长期面临高频噪声捕获不足、底噪掩盖真实信号的测试困境。为满足RIN精准测试需求，“思仪科技”推出了宽频带覆盖、高灵敏度、低噪底的国产化测试方案。

图 1 光相对强度噪声（RIN）测试方案

本方案由光底座和频谱仪两部分组成，为了能精准测量RIN值，“电科思仪”攻克了超宽带光电探测、多级信号处理、噪声分离及系统校准等技术难题，达到了40GHz分析带宽、-157dBc/Hz（@1mW光输入）噪底的RIN测量分析水平，同时支持1260nm~1625nm宽波段范围的RIN测量。图1为测试本公司自主研发的激光源应用案例。

图 2 软件测试视图

RIN分析仪具备友好的用户交互界面，图2为本方案实际RIN测试结果图示例。软件可设置不同的测试条件，便于用户分析全频域、分频段的RIN指标。40GHz分析带宽兼顾超高速应用场景，思仪的校准技术自动剥离环境噪声及系统噪声，实现高精度高重复性的RIN测量，-157dBc/Hz（@1mW光输入）噪底接近量子极限水平。

“电科思仪”开发的激光相对强度噪声测试方案，可缩短用户的研发周期、提升量产良率。同时本方案扩展性强，可根据用户的实际需求提供不同带宽、不同波长范围要求的解决方案。