10月22日，CEIC 2026暨国际星闪联盟产业峰会在深圳会展中心（福田）开幕。中信科移动旗下大唐联仪科技有限公司（以下简称“大唐联仪”）携星闪综测仪平台亮相本届峰会，聚焦终端测试环节，以标准信令破解小件测试难题，为星闪从“技术领先”走向“产业可信”补上可量化、可复现的验证底座。
随着星闪3.0标准成果及15项星闪推荐性国家标准正式发布，星闪电力智慧运维场景同步发布，将无线短距通信的热度推至新高。当产业目光聚焦于“能连多少、能连多快”时，一个同样关键却常被置于幕后的命题正在浮出水面，规模越大，越需要可量化、可复现的“质量标尺”。
大唐联仪信令综测仪平台支持信令与非信令测试，一机多模，覆盖星闪、2G/3G/4G/5G蜂窝、蓝牙、Wi-Fi测试。面向终端厂商，可依托同一平台开展星闪射频测试与认证法规类基础测试，有效减少仪表切换与测试转场。面对星闪3.0标准演进带来的新空口、新测试需求，平台预留了软件升级与测试场景扩展空间，以平台化能力承接标准演进，减少硬件频繁迭代更换。
大唐联仪CTP3308F Pro
星闪SLE射频测试采用直接测试模式，以非信令“强发强收”方式完成测试。通过AT/DLI指令控制DUT强发星闪信号，综测仪完成射频指标测量。这套方式在产线效率场景中优势明显，非信令“强发强收”好用，但由于不同芯片型号或厂家对DUT的控制指令存在差异，非信令综测仪厂家需开展多类适配，维护工作量较大。若由客户自主维护，不同平台还需预留较多时间进行APK适配开发，使用流程较为烦琐。
而信令测试则采用OTA测试方案，大唐联仪CTP3308F Pro综测仪通过射频线接入屏蔽箱，箱内连接耦合板，被测终端通过耦合板与综测仪完成信令交互，遵循星闪标准信令流程实现接入与连接。依托“标准空口”能力，方案省去控制口和天线口，有效提升用户测试效率。
首先，可以不再依赖AT/DLI指令逐芯片适配。待星闪信令测试模式完全标准化后，依据标准控制芯片进入信令测试模式，由综测仪进行收发包测试。降低非信令模式下多类适配与长期维护的负担，也减少客户针对不同平台反复做APK适配开发的时间成本。
其次，小件终端不必强开控制接口和天线接口。耳机、手写笔等小件被测终端仅需供电与测试夹具，通过屏蔽箱内空口耦合完成信令射频测试，避免拆壳开接口对射频性能的破坏，也省去为抑制干扰而特殊加磁环的麻烦。
最后，可以使认证法规类基础测试更加顺畅。信令模式更贴近终端真实入网与连接行为，可为星闪终端认证法规类基础测试提供更接近实际使用状态的验证手段，帮助客户压缩测试转场与整改时间，提升交付效率。
连接的价值在“通”，产业的底气在“测”。星闪的下一步，比的不是谁连得更快，而是谁能在规模上量的同时，让每一次连接都经得起测。大唐联仪深耕研发、生产测试领域十余年，拥有丰富的测试标准构建、仪器仪表开发、测试解决方案构建的经验，致力于成为信息通信行业测试装备的国家队和标杆企业，为客户提供有价值的测试解决方案。 
